解仪器难题,助科研高效

椭偏仪 (ELL)

椭偏仪 (ELL)

  • 仪器型号HORIBA France SAS
  • 测试周期3-7个工作日
  • 已测试样品0个

样品要求

1、样品状态:样品状态:粉末(需要压片或者旋涂后测试)、液体、块状、薄膜(块状和薄膜长宽需要大于5mm); 

2、 如果有基底的膜层结构要做折射率和消光系数,基地厚度要求越厚越好,膜层厚度要在10um以下,如果是单层膜样品,没有基底,膜厚越厚越好,最好500um以上;膜层需为透明薄膜且膜层表面均匀,基底不需要透明。

3、特殊情况需提前沟通。

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科研测试

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